Estudo do efeito da tensão residual na microdeformação da rede cristalina e no tamanho de cristalito em aço Cr-Si-V jateado com granalhas de aço

dc.contributor.advisorNelson Batista de Limapt_BR
dc.contributor.authorOLIVEIRA, RENE R. de
dc.coverageNacionalpt_BR
dc.date.accessioned2017-05-25T11:30:49Z
dc.date.available2017-05-25T11:30:49Z
dc.date.issued2016pt_BR
dc.description.abstractNo presente trabalho foram estudados alguns efeitos causados pelo jateamento por granalhas no aço Cr-Si-V, processo que tem por objetivo aumentar a resistência à fadiga. Para este estudo a variação de parâmetros no processo são ferramentas para melhor compreender os mecanismos que influenciam esta propriedade. Os parâmetros utilizados neste trabalho foram a variação da granalha e o pré tensionamento das amostras aplicados em lâminas utilizadas em feixe de molas automobilísticas de aço de liga cromo silício vanádio (SAE 9254+V). Inicialmente foi realizada a avaliação do perfil de tensão residual, efetuada por difração de raios-x pelo método do sen2 ao longo da espessura na região onde a tensão é compressiva. Nos resultados nota-se um efeito anômalo em relação ao perfil característico da distribuição de tensão residual com a perda de compressão nas camadas iniciais em relação à superfície jateada. Com o uso da microscopia eletrônica de varredura foi observado a região afetada pelo jateamento por granalhas notando que as regiões plasticamente deformadas se encontram nas mesmas regiões onde ocorre a diminuição da tensão residual compressiva. O perfil obtido pela difração de raios-x fornece as informações necessárias com o propósito de conjugar os efeitos que a microtensão (microdeformação) influenciam na macrotensão (tensão residual). Esta relação foi comprovada pela sobreposição dos resultados encontrados na distribuição da microdeformação da rede cristalina com a tensão residual ao longo da espessura na região plasticamente deformada. Os resultados dos perfis das difrações de raios-x mostraram a existência de anisotropia de tensões entre os planos, geradas por defeitos de empilhamento e pela densidade de discordâncias. Assim sendo, para obter os valores das microtensões devem ser considerados os fatores das constantes elásticas (conforme o módulo das direções) e dos planos cristalográficos. O método aplicado foi o Williamson-Hall modificado. Além deste método outros também foram utilizados, tais como: método de Warren-Averbach e o método Single Line, este aplicando a série de Fourier, porém, ao observar os resultados, nota-se a diferença entre os valores obtidos nas deformações, tanto aos métodos quanto aos planos cristalográficos, porém a ênfase deste trabalho foi dada às características dos perfis da distribuição e não aos valores absolutos. Somando a isto, foi proporcionado o estudo da distribuição do tamanho médio de cristalito ao longo da espessura no perfil das difrações de raios-x e os resultados mostraram que esta distribuição varia de forma inversa a microdeformação. A relação entre o tamanho médio de cristalito e a variação das distâncias interplanares corresponde diretamente a alterações das densidades de discordâncias ocorridas no material que por sua vez estão ligadas às microdeformações da rede cristalina. Como complemento ao trabalho foram analisados o fator de concentração de tensão e ensaios de fadiga do material. O fator de concentração de tensão não variou conforme a utilização das granalhas S330 e S390, ambas sendo aplicadas no mesmo regime de jateamento. Os ensaios de fadiga indicaram que o pré tensionamento aumenta a vida útil nas tensões cíclicas do material estudado.pt_BR
dc.description.notasgeraisTese (Doutorado em Tecnologia Nuclear)pt_BR
dc.description.notasteseIPEN/Tpt_BR
dc.description.teseinstituicaoInstituto de Pesquisas Energeticas e Nucleares - IPEN-CNEN/SPpt_BR
dc.format.extent148pt_BR
dc.identifier.citationOLIVEIRA, RENE R. de. <b>Estudo do efeito da tensão residual na microdeformação da rede cristalina e no tamanho de cristalito em aço Cr-Si-V jateado com granalhas de aço</b>. Orientador: Nelson Batista de Lima. 2016. 148 f. Tese (Doutorado em Tecnologia Nuclear) - Instituto de Pesquisas Energeticas e Nucleares - IPEN-CNEN/SP, São Paulo. DOI: <a href="https://dx.doi.org/10.11606/T.85.2017.tde-08022017-145103">10.11606/T.85.2017.tde-08022017-145103</a>. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/27497.
dc.identifier.doi10.11606/T.85.2017.tde-08022017-145103
dc.identifier.urihttp://repositorio.ipen.br/handle/123456789/27497
dc.localSão Paulopt_BR
dc.rightsopenAccesspt_BR
dc.subjectcrystal structurept_BR
dc.subjectautomotive industrypt_BR
dc.subjectchromium alloyspt_BR
dc.subjectchromium steelspt_BR
dc.subjectsilicon additionspt_BR
dc.subjectvanadium silicatespt_BR
dc.subjectshot peeningpt_BR
dc.subjectfatiguept_BR
dc.subjectmaterials workingpt_BR
dc.subjecttest facilitiespt_BR
dc.subjectstress relaxationpt_BR
dc.subjectresidual interactionspt_BR
dc.subjectscanning electron microscopypt_BR
dc.subjectx-ray diffractionpt_BR
dc.subjectphysical radiation effectspt_BR
dc.titleEstudo do efeito da tensão residual na microdeformação da rede cristalina e no tamanho de cristalito em aço Cr-Si-V jateado com granalhas de açopt_BR
dc.title.alternativeStudy of the effect of residual stress on the microstrain of the crystalline lattice and on the crystalite size of steel Cr-Si-V BY shot peeningpt_BR
dc.typeTesept_BR
dspace.entity.typePublication
ipen.autorRENE RAMOS DE OLIVEIRA
ipen.codigoautor942
ipen.contributor.ipenauthorRENE RAMOS DE OLIVEIRA
ipen.date.recebimento17-05pt_BR
ipen.identifier.ipendoc23009pt_BR
ipen.meioeletronicohttp://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-08022017-145103/pt-br.phppt_BR
ipen.type.genreTese
relation.isAuthorOfPublicationb56dc8d5-99b9-470b-a66d-098efd4f7939
relation.isAuthorOfPublication.latestForDiscoveryb56dc8d5-99b9-470b-a66d-098efd4f7939
sigepi.autor.atividadeOLIVEIRA, RENE R. DE:942:730:Spt_BR

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