Multiple diffraction simulation in the study of epitaxial layers
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1989
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INTERNATIONAL CONFERENCE ON THE SCIENCE AND TECHNOLOGY OF DEFECT CONTROL IN SEMICONDUCTORS
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COSTA, C.A.B.S.; CARDOSO, L.P.; MAZZOCCHI, V.L.; PARENTE, C.B.R. Multiple diffraction simulation in the study of epitaxial layers. In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON THE SCIENCE AND TECHNOLOGY OF DEFECT CONTROL IN SEMICONDUCTORS, Sept. 17-22, 1989, Yokohama, Japan. DOI: 10.1016/B978-0-444-88429-9.50092-6. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/14855. Acesso em: 30 Dec 2025.
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