Scanning electron microscopy studies of Fe- 3 percent Si texture obtained by etch-pit method
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1998
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INTERNATIONAL CONGRESS ON ELECTRON MICROSCOPY, 14th
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SANTOS, H.O.; MONTEIRO, W.A.; RODRIGUES, V.A.; LIMA, N.B. Scanning electron microscopy studies of Fe- 3 percent Si texture obtained by etch-pit method. In: CALDERON BENAVIDES, H.A. (ed.); YACAMAN, M.J. (ed.). In: INTERNATIONAL CONGRESS ON ELECTRON MICROSCOPY, 14th, Aug. 31 - Sept. 4, 1998, Cancun, Mexico. Proceedings... p. 245-246. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/21813. Acesso em: 30 Dec 2025.
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