ANTONIO DE SANT'ANA GALVAO

ANTONIO DE SANT'ANA GALVAO

Página do item completo

Resultados de Busca

Agora exibindo 1 - 5 de 5

Materiais padrão de referência para difratometria de pó de raios X, radiação síncrotron e nêutrons
2010 - MARTINEZ, L.G.; GALVAO, A.S.; ORLANDO, M.T.D.; CORREA, H.P.S.; ROSSI, J.L.; COLOSIO, M.A.; SANTOS, J.C.
O alinhamento e calibração de equipamentos de difração de pó são, geralmente, certificados por meio da medida de amostras padrão de referência. Estes materiais padrão de referência devem ter certas características, como parâmetros de cela muitos bem definidos e alta estabilidade. Para a determinação de tamanhos de cristalito e microdeformações, é necessário também determinar os parâmetros de alargamento instrumentais. Alguns materiais cerâmicos devidamente processados e tratados podem atender às especificações necessárias para sua utilização como materiais padrão de referência, em substituição aos padrões do NIST. Neste trabalho são apresentados resultados da certificação de amostras de Al2O3 e Y2O3 de alta pureza, devidamente processados e comparados com os padrões do NIST, medidos tanto em equipamentos convencionais como em dispositivos de difração com radiação síncrotron em configuração de alta resolução. Os resultados mostram que estas amostras atendem integralmente os requisitos para serem usados como padrões de difração de pó.
Synchrotron and neutron diffraction of standard reference samples for powder diffraction developed at IPEN-CNEN/SP
2010 - MARTINEZ, L.G.; GALVAO, A.S.A.; MAZZOCCHI, V.L.; PARENTE, C.B.R.; CORREA, H.P.S.; ORLANDO, M.T.D.
Development of standard reference materials for powder diffraction
2011 - MARTINEZ, L.G.; GALVAO, A.S.A.; ROSSI, J.L.; ORLANDO, M.T.D.; TURRILLAS, X.; CORREA, H.P.S.
Development of standard reference materials for powder diffraction
2008 - MARTINEZ, L.G.; ROCHA, C.J.; GENOVA, L.A.; TAKIISHI, H.; GALVAO, A.S.; ORLANDO, M.T.D.; CORREA, H.P.S.; FERREIRA, F.F.; PAIVA SANTOS, C.O.
Desenvolvimento de amostras padrão de referência para difratometria
2011 - GALVAO, ANTONIO de S.
Neste trabalho foram desenvolvidas amostras de materiais padrão de referência para difratometria de policristais. Materiais de alta pureza foram tratados mecânica e termicamente até atingirem as características necessárias para serem usados como materiais padrão de referência de alta qualidade, comparáveis àqueles produzidos pelo NIST. As medidas foram feitas inicialmente em vários difratômetros convencionais de laboratório de difração de raios X, com geometria de Bragg -Brentano, difratômetros de nêutrons e, posteriormente, em equipamento de alta resolução com fonte síncrotron. Os parâmetros de rede obtidos foram calculados pelo programa Origin e ajustados pelo Método dos Mínimos Quadrados. Esses ajustes foram comparados com os obtidos pelo Método de Rietveld, usando o programa GSAS através da interface gráfica EXPGUI, mostrando-se bastante satisfatórios. Os materiais obtidos foram alumina-α, ítria, silício, céria, hexaboreto de lantânio e fluoreto de lítio, que apresentaram qualidade semelhante e, em alguns casos, superiores aos padrões desenvolvidos e comercializados pelo NIST, a custos bem menores.