ANTONIO DE SANT'ANA GALVAO
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Resumo IPEN-doc 15682 Materiais padrão de referência para difratometria de pó de raios X, radiação síncrotron e nêutrons2010 - MARTINEZ, L.G.; GALVAO, A.S.; ORLANDO, M.T.D.; CORREA, H.P.S.; ROSSI, J.L.; COLOSIO, M.A.; SANTOS, J.C.O alinhamento e calibração de equipamentos de difração de pó são, geralmente, certificados por meio da medida de amostras padrão de referência. Estes materiais padrão de referência devem ter certas características, como parâmetros de cela muitos bem definidos e alta estabilidade. Para a determinação de tamanhos de cristalito e microdeformações, é necessário também determinar os parâmetros de alargamento instrumentais. Alguns materiais cerâmicos devidamente processados e tratados podem atender às especificações necessárias para sua utilização como materiais padrão de referência, em substituição aos padrões do NIST. Neste trabalho são apresentados resultados da certificação de amostras de Al2O3 e Y2O3 de alta pureza, devidamente processados e comparados com os padrões do NIST, medidos tanto em equipamentos convencionais como em dispositivos de difração com radiação síncrotron em configuração de alta resolução. Os resultados mostram que estas amostras atendem integralmente os requisitos para serem usados como padrões de difração de pó.Resumo IPEN-doc 15604 Synchrotron and neutron diffraction of standard reference samples for powder diffraction developed at IPEN-CNEN/SP2010 - MARTINEZ, L.G.; GALVAO, A.S.A.; MAZZOCCHI, V.L.; PARENTE, C.B.R.; CORREA, H.P.S.; ORLANDO, M.T.D.Resumo IPEN-doc 17974 Development of standard reference materials for powder diffraction2011 - MARTINEZ, L.G.; GALVAO, A.S.A.; ROSSI, J.L.; ORLANDO, M.T.D.; TURRILLAS, X.; CORREA, H.P.S.Resumo IPEN-doc 13849 Development of standard reference materials for powder diffraction2008 - MARTINEZ, L.G.; ROCHA, C.J.; GENOVA, L.A.; TAKIISHI, H.; GALVAO, A.S.; ORLANDO, M.T.D.; CORREA, H.P.S.; FERREIRA, F.F.; PAIVA SANTOS, C.O.