Materiais padrão de referência para difratometria de pó de raios X, radiação síncrotron e nêutrons
Carregando...
Data
Data de publicação:
2010
Orientador
Título da Revista
ISSN da Revista
Título do Volume
É parte de
É parte de
É parte de
É parte de
CONGRESSO BRASILEIRO DE CERAMICA, 54.
Exportar
Resumo
O alinhamento e calibração de equipamentos de difração de pó são, geralmente, certificados por meio da medida de amostras padrão de referência. Estes materiais padrão de referência devem ter certas características, como parâmetros de cela muitos bem definidos e alta estabilidade. Para a determinação de tamanhos de cristalito e microdeformações, é necessário também determinar os parâmetros de alargamento instrumentais. Alguns materiais cerâmicos devidamente processados e tratados podem atender às especificações necessárias para sua utilização como materiais padrão de referência, em substituição aos padrões do NIST. Neste trabalho são apresentados resultados da certificação de amostras de Al2O3 e Y2O3 de alta pureza, devidamente processados e comparados com os padrões do NIST, medidos tanto em equipamentos convencionais como em dispositivos de difração com radiação síncrotron em configuração de alta resolução. Os resultados mostram que estas amostras atendem integralmente os requisitos para serem usados como padrões de difração de pó.
Como referenciar
MARTINEZ, L.G.; GALVAO, A.S.; ORLANDO, M.T.D.; CORREA, H.P.S.; ROSSI, J.L.; COLOSIO, M.A.; SANTOS, J.C. Materiais padrao de referencia para difratometria de po de raios X, radiacao sincrotron e neutrons. In: CONGRESSO BRASILEIRO DE CERAMICA, 54., 30 de maio - 2 de junho, 2010, Foz do Iguacu, PR. Resumos... Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/21145. Acesso em: 21 Mar 2025.
Esta referência é gerada automaticamente de acordo com as normas do estilo IPEN/SP (ABNT NBR 6023) e recomenda-se uma verificação final e ajustes caso necessário.