Materiais padrão de referência para difratometria de pó de raios X, radiação síncrotron e nêutrons

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dc.contributor.authorMARTINEZ, L.G.pt_BR
dc.contributor.authorGALVAO, A.S.pt_BR
dc.contributor.authorORLANDO, M.T.D.pt_BR
dc.contributor.authorCORREA, H.P.S.pt_BR
dc.contributor.authorROSSI, J.L.pt_BR
dc.contributor.authorCOLOSIO, M.A.pt_BR
dc.contributor.authorSANTOS, J.C.pt_BR
dc.coverageNacionalpt_BR
dc.creator.eventoCONGRESSO BRASILEIRO DE CERAMICA, 54.pt_BR
dc.date.accessioned2014-11-19T11:33:44Zpt_BR
dc.date.accessioned2014-11-19T14:11:37Zpt_BR
dc.date.accessioned2015-04-01T12:46:10Z
dc.date.available2014-11-19T11:33:44Zpt_BR
dc.date.available2014-11-19T14:11:37Zpt_BR
dc.date.available2015-04-01T12:46:10Z
dc.date.evento30 de maio - 2 de junho, 2010pt_BR
dc.description.abstractO alinhamento e calibração de equipamentos de difração de pó são, geralmente, certificados por meio da medida de amostras padrão de referência. Estes materiais padrão de referência devem ter certas características, como parâmetros de cela muitos bem definidos e alta estabilidade. Para a determinação de tamanhos de cristalito e microdeformações, é necessário também determinar os parâmetros de alargamento instrumentais. Alguns materiais cerâmicos devidamente processados e tratados podem atender às especificações necessárias para sua utilização como materiais padrão de referência, em substituição aos padrões do NIST. Neste trabalho são apresentados resultados da certificação de amostras de Al2O3 e Y2O3 de alta pureza, devidamente processados e comparados com os padrões do NIST, medidos tanto em equipamentos convencionais como em dispositivos de difração com radiação síncrotron em configuração de alta resolução. Os resultados mostram que estas amostras atendem integralmente os requisitos para serem usados como padrões de difração de pó.
dc.identifier.citationMARTINEZ, L.G.; GALVAO, A.S.; ORLANDO, M.T.D.; CORREA, H.P.S.; ROSSI, J.L.; COLOSIO, M.A.; SANTOS, J.C. Materiais padrao de referencia para difratometria de po de raios X, radiacao sincrotron e neutrons. In: CONGRESSO BRASILEIRO DE CERAMICA, 54., 30 de maio - 2 de junho, 2010, Foz do Iguacu, PR. <b>Resumos...</b> Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/21145.
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0002-8304-9939
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0001-7707-7821
dc.identifier.urihttp://repositorio.ipen.br/handle/123456789/21145pt_BR
dc.local.eventoFoz do Iguacu, PRpt_BR
dc.rightsopenAccesspt_BR
dc.subjectx-ray diffractometerspt_BR
dc.subjectpowderspt_BR
dc.subjectcalibration standardspt_BR
dc.subjectsynchrotron radiation sourcespt_BR
dc.subjectneutronspt_BR
dc.titleMateriais padrão de referência para difratometria de pó de raios X, radiação síncrotron e nêutronspt_BR
dc.typeResumo de eventos científicospt_BR
dspace.entity.typePublication
ipen.autorJESUALDO LUIZ ROSSI
ipen.autorANTONIO DE SANT'ANA GALVAO
ipen.autorLUIS GALLEGO MARTINEZ
ipen.codigoautor502
ipen.codigoautor7951
ipen.codigoautor397
ipen.contributor.ipenauthorJESUALDO LUIZ ROSSI
ipen.contributor.ipenauthorANTONIO DE SANT'ANA GALVAO
ipen.contributor.ipenauthorLUIS GALLEGO MARTINEZ
ipen.date.recebimento10-11pt_BR
ipen.event.datapadronizada2010pt_BR
ipen.identifier.ipendoc15682pt_BR
ipen.notas.internasResumospt_BR
ipen.type.genreResumo
relation.isAuthorOfPublicationc30c7f95-0303-41bd-aa41-1fc8c12ec2ab
relation.isAuthorOfPublicationa31f729c-3a67-4bbf-a399-757c9ddc289d
relation.isAuthorOfPublicationd024d136-878b-4d31-bb7e-c1cb06324cfb
relation.isAuthorOfPublication.latestForDiscoveryd024d136-878b-4d31-bb7e-c1cb06324cfb
sigepi.autor.atividadeMARTINEZ, L.G.:397:730:Spt_BR
sigepi.autor.atividadeGALVAO, A.S.:7951:730:Npt_BR
sigepi.autor.atividadeROSSI, J.L.:502:730:Npt_BR
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