ANTONIO DE SANT'ANA GALVAO

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Assunto: calibration standards ×

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    Resumo IPEN-doc 15682
    Materiais padrão de referência para difratometria de pó de raios X, radiação síncrotron e nêutrons
    2010 - MARTINEZ, L.G.; GALVAO, A.S.; ORLANDO, M.T.D.; CORREA, H.P.S.; ROSSI, J.L.; COLOSIO, M.A.; SANTOS, J.C.
    O alinhamento e calibração de equipamentos de difração de pó são, geralmente, certificados por meio da medida de amostras padrão de referência. Estes materiais padrão de referência devem ter certas características, como parâmetros de cela muitos bem definidos e alta estabilidade. Para a determinação de tamanhos de cristalito e microdeformaçþes, Ê necessårio tambÊm determinar os parâmetros de alargamento instrumentais. Alguns materiais cerâmicos devidamente processados e tratados podem atender às especificaçþes necessårias para sua utilização como materiais padrão de referência, em substituição aos padrþes do NIST. Neste trabalho são apresentados resultados da certificação de amostras de Al2O3 e Y2O3 de alta pureza, devidamente processados e comparados com os padrþes do NIST, medidos tanto em equipamentos convencionais como em dispositivos de difração com radiação síncrotron em configuração de alta resolução. Os resultados mostram que estas amostras atendem integralmente os requisitos para serem usados como padrþes de difração de pó.
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    Resumo IPEN-doc 17974
    Development of standard reference materials for powder diffraction
    2011 - MARTINEZ, L.G.; GALVAO, A.S.A.; ROSSI, J.L.; ORLANDO, M.T.D.; TURRILLAS, X.; CORREA, H.P.S.
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    Resumo IPEN-doc 13849
    Development of standard reference materials for powder diffraction
    2008 - MARTINEZ, L.G.; ROCHA, C.J.; GENOVA, L.A.; TAKIISHI, H.; GALVAO, A.S.; ORLANDO, M.T.D.; CORREA, H.P.S.; FERREIRA, F.F.; PAIVA SANTOS, C.O.
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    Dissertação IPEN-doc 16731
    Desenvolvimento de amostras padrĂŁo de referĂŞncia para difratometria
    2011 - GALVAO, ANTONIO de S.
    Neste trabalho foram desenvolvidas amostras de materiais padrão de referência para difratometria de policristais. Materiais de alta pureza foram tratados mecânica e termicamente atÊ atingirem as características necessårias para serem usados como materiais padrão de referência de alta qualidade, comparåveis àqueles produzidos pelo NIST. As medidas foram feitas inicialmente em vårios difratômetros convencionais de laboratório de difração de raios X, com geometria de Bragg -Brentano, difratômetros de nêutrons e, posteriormente, em equipamento de alta resolução com fonte síncrotron. Os parâmetros de rede obtidos foram calculados pelo programa Origin e ajustados pelo MÊtodo dos Mínimos Quadrados. Esses ajustes foram comparados com os obtidos pelo MÊtodo de Rietveld, usando o programa GSAS atravÊs da interface gråfica EXPGUI, mostrando-se bastante satisfatórios. Os materiais obtidos foram alumina-ι, ítria, silício, cÊria, hexaboreto de lantânio e fluoreto de lítio, que apresentaram qualidade semelhante e, em alguns casos, superiores aos padrþes desenvolvidos e comercializados pelo NIST, a custos bem menores.