Aplicacao da microscopia eletronica de varredura a analise de falhas em componentes metalicos
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1987
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11o. COLOQUIO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE MICROSCOPIA ELETRONICA
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GODOY, A.L.E.; PAES de ANDRADE, A.H. Aplicacao da microscopia eletronica de varredura a analise de falhas em componentes metalicos. In: 11o. COLOQUIO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE MICROSCOPIA ELETRONICA, 1-3 de setembro, 1987, Caxambu, MG. Resumo... Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/19741. Acesso em: 30 Dec 2025.
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