Aplicacao da microscopia eletronica de varredura a analise de falhas em componentes metalicos

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dc.contributor.authorGODOY, A.L.E.pt_BR
dc.contributor.authorPAES de ANDRADE, A.H.pt_BR
dc.coverageNacionalpt_BR
dc.creator.evento11o. COLOQUIO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE MICROSCOPIA ELETRONICApt_BR
dc.date.accessioned2014-11-19T10:48:47Zpt_BR
dc.date.accessioned2014-11-19T14:02:56Zpt_BR
dc.date.accessioned2015-04-01T12:39:49Z
dc.date.available2014-11-19T10:48:47Zpt_BR
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dc.date.available2015-04-01T12:39:49Z
dc.date.evento1-3 de setembro, 1987pt_BR
dc.identifier.citationGODOY, A.L.E.; PAES de ANDRADE, A.H. Aplicacao da microscopia eletronica de varredura a analise de falhas em componentes metalicos. In: 11o. COLOQUIO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE MICROSCOPIA ELETRONICA, 1-3 de setembro, 1987, Caxambu, MG. <b>Resumo...</b> Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/19741.
dc.identifier.urihttp://repositorio.ipen.br/handle/123456789/19741pt_BR
dc.local.eventoCaxambu, MGpt_BR
dc.rightsopenAccesspt_BR
dc.subjectspringspt_BR
dc.subjectscanning electron microscopypt_BR
dc.titleAplicacao da microscopia eletronica de varredura a analise de falhas em componentes metalicospt_BR
dc.typeResumo de eventos científicospt_BR
dspace.entity.typePublication
ipen.autorARNALDO HOMOBONO PAES DE ANDRADE
ipen.autorANA LUCIA EXNER GODOY
ipen.codigoautor1153
ipen.codigoautor287
ipen.contributor.ipenauthorARNALDO HOMOBONO PAES DE ANDRADE
ipen.contributor.ipenauthorANA LUCIA EXNER GODOY
ipen.date.recebimento90-12pt_BR
ipen.event.datapadronizada1987pt_BR
ipen.identifier.ipendoc01797pt_BR
ipen.notas.internasResumopt_BR
ipen.type.genreResumo
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relation.isAuthorOfPublicationfdbda3ac-0262-4058-9930-1d72e1c2b559
relation.isAuthorOfPublication.latestForDiscoveryfdbda3ac-0262-4058-9930-1d72e1c2b559
sigepi.autor.atividadeGODOY, A.L.E.:287:-1:Spt_BR
sigepi.autor.atividadePAES de ANDRADE, A.H.:1153:-1:Npt_BR

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