Growth of YLF:Yb:Tm:Nd for optical applications
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Journal of Materials Science
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Resumo
The focus of this study is the behavior of Tm, Yb and Nd ions in the LiYF4 (YLF) crystal. One YLF crystal was successfully grown by the Czochralski method; it was doped with 20 mol% Yb, 1.3 mol% Nd and 0.05 mol% Tm. The segregation coefficients of the dopants and lattice parameters were determined. The spectroscopic properties of samples with different amounts of Nd were obtained from absorption and emission studies.
Como referenciar
RANIERI, I.M.; COURROL, L.C.; CARVALHO, A.F.; GOMES, L.; BALDOCHI, S.L. Growth of YLF:Yb:Tm:Nd for optical applications. Journal of Materials Science, v. 42, p. 2309-2313, 2007. DOI: 10.1007/s10853-006-0991-x. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/5194. Acesso em: 20 Mar 2026.
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