Microestrutura de beta-SiAlOn com adicao de concentrado de itria
Carregando...
Data
Data de publicação
1995
Orientador
Título da Revista
ISSN da Revista
Título do Volume
É parte de
É parte de
É parte de
É parte de
2rd INTERAMERICAN CONFERENCE ON ELECTRON MICROSCOPY; 15th BRAZILIAN SOCIETY FOR ELECTRON MICROSCOPY
Exportar
Como referenciar
BRESSIANI, A.H.A.; ESCOTE, M.T.; BRESSIANI, J.C. Microestrutura de beta-SiAlOn com adicao de concentrado de itria. In: 2rd INTERAMERICAN CONFERENCE ON ELECTRON MICROSCOPY; 15th BRAZILIAN SOCIETY FOR ELECTRON MICROSCOPY, September 2-6, 1995, Caxambu, MG. Resumo... p. 65. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/21985. Acesso em: 30 Dec 2025.
Esta referência é gerada automaticamente de acordo com as normas do estilo IPEN/SP (ABNT NBR 6023) e recomenda-se uma verificação final e ajustes caso necessário.