Microestrutura de beta-SiAlOn com adicao de concentrado de itria

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dc.contributor.authorBRESSIANI, A.H.A.pt_BR
dc.contributor.authorESCOTE, M.T.pt_BR
dc.contributor.authorBRESSIANI, J.C.pt_BR
dc.coverageInternacionalpt_BR
dc.creator.evento2rd INTERAMERICAN CONFERENCE ON ELECTRON MICROSCOPY; 15th BRAZILIAN SOCIETY FOR ELECTRON MICROSCOPYpt_BR
dc.date.accessioned2014-11-19T11:41:33Zpt_BR
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dc.date.available2014-11-19T11:41:33Zpt_BR
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dc.date.available2015-04-01T12:46:35Z
dc.date.eventoSeptember 2-6, 1995pt_BR
dc.format.extent65pt_BR
dc.identifier.citationBRESSIANI, A.H.A.; ESCOTE, M.T.; BRESSIANI, J.C. Microestrutura de beta-SiAlOn com adicao de concentrado de itria. In: 2rd INTERAMERICAN CONFERENCE ON ELECTRON MICROSCOPY; 15th BRAZILIAN SOCIETY FOR ELECTRON MICROSCOPY, September 2-6, 1995, Caxambu, MG. <b>Resumo...</b> p. 65. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/21985.
dc.identifier.urihttp://repositorio.ipen.br/handle/123456789/21985pt_BR
dc.local.eventoCaxambu, MGpt_BR
dc.rightsopenAccesspt_BR
dc.subjectaluminium oxidespt_BR
dc.subjectsilicon nitridespt_BR
dc.subjectyttrium oxidespt_BR
dc.subjectmicrostructurept_BR
dc.subjectx-ray diffractionpt_BR
dc.titleMicroestrutura de beta-SiAlOn com adicao de concentrado de itriapt_BR
dc.typeResumo de eventos científicospt_BR
dspace.entity.typePublication
ipen.autorJOSE CARLOS BRESSIANI
ipen.autorMARCIA TSUYAMA ESCOTE
ipen.autorANA HELENA DE ALMEIDA BRESSIANI
ipen.codigoautor1459
ipen.codigoautor1878
ipen.codigoautor96
ipen.contributor.ipenauthorJOSE CARLOS BRESSIANI
ipen.contributor.ipenauthorMARCIA TSUYAMA ESCOTE
ipen.contributor.ipenauthorANA HELENA DE ALMEIDA BRESSIANI
ipen.date.recebimento95-07pt_BR
ipen.event.datapadronizada1995pt_BR
ipen.identifier.ipendoc05960pt_BR
ipen.notas.internasResumopt_BR
ipen.type.genreResumo
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sigepi.autor.atividadeBRESSIANI, A.H.A.:96:-1:Spt_BR
sigepi.autor.atividadeESCOTE, M.T.:1878:-1:Npt_BR
sigepi.autor.atividadeBRESSIANI, J.C.:1459:-1:Npt_BR

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