Tecnicas de preparacao de amostras metalicas para microscopia eletronica de transmissao para estudos de deformacao 'in situ'
Carregando...
Data
Data de publicação
1987
Autores IPEN
Orientador
Título da Revista
ISSN da Revista
Título do Volume
É parte de
É parte de
É parte de
É parte de
11o. COLOQUIO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE MICROSCOPIA ELETRONICA
Exportar
Como referenciar
ALARCON, O.; NAZAR, A.M.; MONTEIRO, W.A. Tecnicas de preparacao de amostras metalicas para microscopia eletronica de transmissao para estudos de deformacao 'in situ'. In: 11o. COLOQUIO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE MICROSCOPIA ELETRONICA, 1-3 de setembro, 1987, Caxambu, MG. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/19742. Acesso em: 24 Mar 2026.
Esta referência é gerada automaticamente de acordo com as normas do estilo IPEN/SP (ABNT NBR 6023) e recomenda-se uma verificação final e ajustes caso necessário.