Caracterizacao microestrutural atraves de microscopia optica e eletronica do aco ferramenta sinterizado 2,3 porcento C- 12,5 porcento Cr - 1,1 porcento Mo - 4,0 porcento V
Carregando...
Data
Data de publicação
1998
Orientador
Título da Revista
ISSN da Revista
Título do Volume
É parte de
É parte de
É parte de
É parte de
CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIENCIA DOS MATERIAIS, 13.; SEMINARIO DE MATERIAIS PARA O SETOR ELETRICO, 6.
Exportar
Como referenciar
BORRO JUNIOR, A.; MONTEIRO, W.A.; ALMEIDA FILHO, A.; VATAVUK, J. Caracterizacao microestrutural atraves de microscopia optica e eletronica do aco ferramenta sinterizado 2,3 porcento C- 12,5 porcento Cr - 1,1 porcento Mo - 4,0 porcento V. In: CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIENCIA DOS MATERIAIS, 13.; SEMINARIO DE MATERIAIS PARA O SETOR ELETRICO, 6., 6-9 dez, 1998, Curitiba, PR. Anais... p. 1241-1252. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/13792. Acesso em: 30 Dec 2025.
Esta referência é gerada automaticamente de acordo com as normas do estilo IPEN/SP (ABNT NBR 6023) e recomenda-se uma verificação final e ajustes caso necessário.