Caracterizacao microestrutural atraves de microscopia optica e eletronica do aco ferramenta sinterizado 2,3 porcento C- 12,5 porcento Cr - 1,1 porcento Mo - 4,0 porcento V
| dc.contributor.author | BORRO JUNIOR, A. | pt_BR |
| dc.contributor.author | MONTEIRO, W.A. | pt_BR |
| dc.contributor.author | ALMEIDA FILHO, A. | pt_BR |
| dc.contributor.author | VATAVUK, J. | pt_BR |
| dc.coverage | Nacional | pt_BR |
| dc.creator.evento | CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIENCIA DOS MATERIAIS, 13.; SEMINARIO DE MATERIAIS PARA O SETOR ELETRICO, 6. | pt_BR |
| dc.date.accessioned | 2014-11-17T17:26:01Z | pt_BR |
| dc.date.accessioned | 2014-11-18T17:35:21Z | pt_BR |
| dc.date.accessioned | 2015-04-02T06:50:51Z | |
| dc.date.available | 2014-11-17T17:26:01Z | pt_BR |
| dc.date.available | 2014-11-18T17:35:21Z | pt_BR |
| dc.date.available | 2015-04-02T06:50:51Z | |
| dc.date.evento | 6-9 dez, 1998 | pt_BR |
| dc.event.sigla | CBECIMAT,13; SEMEL,6 | pt_BR |
| dc.format.extent | 1241-1252 | pt_BR |
| dc.identifier.citation | BORRO JUNIOR, A.; MONTEIRO, W.A.; ALMEIDA FILHO, A.; VATAVUK, J. Caracterizacao microestrutural atraves de microscopia optica e eletronica do aco ferramenta sinterizado 2,3 porcento C- 12,5 porcento Cr - 1,1 porcento Mo - 4,0 porcento V. In: CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIENCIA DOS MATERIAIS, 13.; SEMINARIO DE MATERIAIS PARA O SETOR ELETRICO, 6., 6-9 dez, 1998, Curitiba, PR. <b>Anais...</b> p. 1241-1252. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/13792. | |
| dc.identifier.uri | http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/13792 | pt_BR |
| dc.local.evento | Curitiba, PR | pt_BR |
| dc.subject | stainless steels | pt_BR |
| dc.subject | chromium alloys | pt_BR |
| dc.subject | molybdenum alloys | pt_BR |
| dc.subject | vanadium alloys | pt_BR |
| dc.subject | microstructure | pt_BR |
| dc.subject | powder metallurgy | pt_BR |
| dc.subject | optical microscopy | pt_BR |
| dc.subject | scanning electron microscopy | pt_BR |
| dc.subject | carbides | pt_BR |
| dc.title | Caracterizacao microestrutural atraves de microscopia optica e eletronica do aco ferramenta sinterizado 2,3 porcento C- 12,5 porcento Cr - 1,1 porcento Mo - 4,0 porcento V | pt_BR |
| dc.type | Texto completo de evento | pt_BR |
| dspace.entity.type | Publication | |
| ipen.autor | JAN VATAVUK | |
| ipen.autor | AMERICO DE ALMEIDA FILHO | |
| ipen.autor | WALDEMAR ALFREDO MONTEIRO | |
| ipen.autor | ADAYR BORRO JUNIOR | |
| ipen.codigoautor | 2126 | |
| ipen.codigoautor | 2369 | |
| ipen.codigoautor | 982 | |
| ipen.codigoautor | 2368 | |
| ipen.contributor.ipenauthor | JAN VATAVUK | |
| ipen.contributor.ipenauthor | AMERICO DE ALMEIDA FILHO | |
| ipen.contributor.ipenauthor | WALDEMAR ALFREDO MONTEIRO | |
| ipen.contributor.ipenauthor | ADAYR BORRO JUNIOR | |
| ipen.date.recebimento | 02-02 | pt_BR |
| ipen.event.datapadronizada | 1998 | pt_BR |
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| ipen.notas.internas | Anais | pt_BR |
| ipen.type.genre | Artigo | |
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