Estudo por microscopia eletronica de transmissao (MET) do recozimento de defeitos residuais em camadas de silicio recristalizadas

dc.contributor.authorSANTOS, J.T.pt_BR
dc.contributor.authorHASENACK, C.M.pt_BR
dc.contributor.authorMONTEIRO, W.A.pt_BR
dc.coverageNacionalpt_BR
dc.creator.evento13o. COLOQUIO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE MICROSCOPIA ELETRONICApt_BR
dc.date.accessioned2014-11-19T11:39:26Zpt_BR
dc.date.accessioned2014-11-19T14:11:10Zpt_BR
dc.date.accessioned2015-04-01T12:48:34Z
dc.date.available2014-11-19T11:39:26Zpt_BR
dc.date.available2014-11-19T14:11:10Zpt_BR
dc.date.available2015-04-01T12:48:34Z
dc.date.evento31 de agosto - 4 de setembro, 1991pt_BR
dc.identifier.citationSANTOS, J.T.; HASENACK, C.M.; MONTEIRO, W.A. Estudo por microscopia eletronica de transmissao (MET) do recozimento de defeitos residuais em camadas de silicio recristalizadas. In: 13o. COLOQUIO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE MICROSCOPIA ELETRONICA, 31 de agosto - 4 de setembro, 1991, Caxambu, MG. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/21668.
dc.identifier.urihttp://repositorio.ipen.br/handle/123456789/21668pt_BR
dc.local.eventoCaxambu, MGpt_BR
dc.subjectsiliconpt_BR
dc.subjecttransmission electron microscopypt_BR
dc.titleEstudo por microscopia eletronica de transmissao (MET) do recozimento de defeitos residuais em camadas de silicio recristalizadaspt_BR
dc.typeResumo de eventos científicospt_BR
dspace.entity.typePublication
ipen.autorWALDEMAR ALFREDO MONTEIRO
ipen.autorJARBAS TAVARES DOS SANTOS
ipen.codigoautor982
ipen.codigoautor1632
ipen.contributor.ipenauthorWALDEMAR ALFREDO MONTEIRO
ipen.contributor.ipenauthorJARBAS TAVARES DOS SANTOS
ipen.date.recebimento91-12pt_BR
ipen.event.datapadronizada1991pt_BR
ipen.identifier.ipendoc04243pt_BR
ipen.observacoesarquivo não disponível no Repositóriopt_BR
ipen.type.genreResumo
relation.isAuthorOfPublication5a26fe3e-3f2b-415a-a692-8d1075ce58ed
relation.isAuthorOfPublication96066b4e-f835-4398-be71-bc0d609b0042
relation.isAuthorOfPublication.latestForDiscovery96066b4e-f835-4398-be71-bc0d609b0042
sigepi.autor.atividadeSANTOS, J.T.:1632:-1:Spt_BR
sigepi.autor.atividadeHASENACK, C.M.:-1:-1:Npt_BR
sigepi.autor.atividadeMONTEIRO, W.A.:982:-1:Npt_BR