Analytical description of z-scan on-axis intensity based on the Huygens-Fresnel principle
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Journal of the Optical Society of America, B
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SAMAD, R.E.; VIEIRA JUNIOR, N.D. Analytical description of z-scan on-axis intensity based on the Huygens-Fresnel principle. Journal of the Optical Society of America, B, v. 15, n. 11, p. 2742-2747, 1998. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/6342. Acesso em: 30 Dec 2025.
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