Analise quantitativa de composito de aluminio reforcado com carbeto de silicio pela tecnica de fluorescencia de raios X e radiacao infravermelha

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o objetivo deste trabalho foi analisar quantitativamente o Si e C do compósito de alumínio reforçados de carbeto de silício por espectrometria de fluorescência de raios x e radiação infravermelha. Para tal utilizou-se um espectrômetro de fluorescência de raios X por dispersão de comprimento de onda, com anodo de Rh para excitação e produção das radiações características e um analisador de carbono via detector infravermelho, acoplado a um fomo de rádio-frequência. Teores de 1,76 % de carbono e 3,27 % de silício foram quantificados nas amostras de carbeto de silício confirmando a estequiometria teórica deste material. Os resultados demonstram a viabilidade desta metodologia para o controle de qualidade deste tipo de material. Foram utilizadas neste trabalho amostras de alumínio 6061 e 6061 reforçadas de carbeto de silício (5%).

Como referenciar
PRADO, T.C.; SCAPIN, M.A.; SALVADOR, V.L.R.; MARTINEZ, L.G.; MOURA, S.C.; SASSINE, A.; VEGA BUSTILLOS, J.O.W. Analise quantitativa de composito de aluminio reforcado com carbeto de silicio pela tecnica de fluorescencia de raios X e radiacao infravermelha. Revista Brasileira de Pesquisa e Desenvolvimento, v. 4, n. 3, p. 1093-1097, 2002. Parte 1. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/5967. Acesso em: 30 Dec 2025.
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