Analise quantitativa de composito de aluminio reforcado com carbeto de silicio pela tecnica de fluorescencia de raios X e radiacao infravermelha

Abstract

o objetivo deste trabalho foi analisar quantitativamente o Si e C do compósito de alumínio reforçados de carbeto de silício por espectrometria de fluorescência de raios x e radiação infravermelha. Para tal utilizou-se um espectrômetro de fluorescência de raios X por dispersão de comprimento de onda, com anodo de Rh para excitação e produção das radiações características e um analisador de carbono via detector infravermelho, acoplado a um fomo de rádio-frequência. Teores de 1,76 % de carbono e 3,27 % de silício foram quantificados nas amostras de carbeto de silício confirmando a estequiometria teórica deste material. Os resultados demonstram a viabilidade desta metodologia para o controle de qualidade deste tipo de material. Foram utilizadas neste trabalho amostras de alumínio 6061 e 6061 reforçadas de carbeto de silício (5%).