Caracterizacao de filmes finos anti-refletores em cristais de YLF
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Autores IPEN
NIKLAUS URSUS WETTER
IZILDA MARCIA RANIERI
EDUARDO COLOMBO SOUSA
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Boletim Técnico da Faculdade de Tecnologia de São Paulo
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SOUSA, EDUARDO C.; RANIERI, IZILDA M.; WETTER, NIKLAUS U. Caracterizacao de filmes finos anti-refletores em cristais de YLF. Boletim Técnico da Faculdade de Tecnologia de São Paulo, v. 19, p. 14, 2005. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/5469. Acesso em: 19 Oct 2026.
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