Caracterizacao de filmes finos anti-refletores em cristais de YLF

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dc.contributor.authorSOUSA, EDUARDO C.pt_BR
dc.contributor.authorRANIERI, IZILDA M.pt_BR
dc.contributor.authorWETTER, NIKLAUS U.pt_BR
dc.coverageNacionalpt_BR
dc.date.accessioned2014-07-15T13:48:30Zpt_BR
dc.date.accessioned2014-07-30T11:51:00Z
dc.date.available2014-07-15T13:48:30Zpt_BR
dc.date.available2014-07-30T11:51:00Z
dc.date.issued2005pt_BR
dc.format.extent14pt_BR
dc.identifier.citationSOUSA, EDUARDO C.; RANIERI, IZILDA M.; WETTER, NIKLAUS U. Caracterizacao de filmes finos anti-refletores em cristais de YLF. <b>Boletim Técnico da Faculdade de Tecnologia de São Paulo</b>, v. 19, p. 14, 2005. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/5469.
dc.identifier.issn1518-9082pt_BR
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0002-9379-9530
dc.identifier.urihttp://repositorio.ipen.br/handle/123456789/5469pt_BR
dc.identifier.vol19pt_BR
dc.relation.ispartofBoletim Técnico da Faculdade de Tecnologia de São Paulopt_BR
dc.rightsopenAccessen
dc.subjectsolid state laserspt_BR
dc.subjectthin filmspt_BR
dc.subjectantireflection coatingspt_BR
dc.titleCaracterizacao de filmes finos anti-refletores em cristais de YLFpt_BR
dc.typeArtigo de periódicopt_BR
dspace.entity.typePublication
ipen.autorNIKLAUS URSUS WETTER
ipen.autorIZILDA MARCIA RANIERI
ipen.autorEDUARDO COLOMBO SOUSA
ipen.codigoautor919
ipen.codigoautor1445
ipen.codigoautor3486
ipen.contributor.ipenauthorNIKLAUS URSUS WETTER
ipen.contributor.ipenauthorIZILDA MARCIA RANIERI
ipen.contributor.ipenauthorEDUARDO COLOMBO SOUSA
ipen.date.recebimento06-11pt_BR
ipen.identifier.fiSem F.I.pt_BR
ipen.identifier.ipendoc11456pt_BR
ipen.type.genreArtigo
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relation.isAuthorOfPublication.latestForDiscovery9f73b084-c032-46d7-a10f-8bdefb63508b
sigepi.autor.atividadeSOUSA, EDUARDO C.:3486:29:Spt_BR
sigepi.autor.atividadeRANIERI, IZILDA M.:1445:29:Npt_BR
sigepi.autor.atividadeWETTER, NIKLAUS U.:919:29:Npt_BR

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