Measurement of the exposure rate due to low energy X-ray emitted from video display terminals
Carregando...
Data
Data de publicação
Autores IPEN
Orientador
Título da Revista
ISSN da Revista
Título do Volume
É parte de
É parte de
É parte de
International Journal Radiation Applied Instrumentation
Como referenciar
CAMPOS, L.L. Measurement of the exposure rate due to low energy X-ray emitted from video display terminals. International Journal Radiation Applied Instrumentation, v. 39, n. 2, p. 173-174, 1988. Part A. Appl. Radiat. Isot. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/6644. Acesso em: 30 Dec 2025.
Esta referência é gerada automaticamente de acordo com as normas do estilo IPEN/SP (ABNT NBR 6023) e recomenda-se uma verificação final e ajustes caso necessário.